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簡述X射線熒光光譜儀的幾種分析模式

更新時間:2018-03-26       點擊次數:2452
   X射線熒光光譜儀應用于水泥、鋼鐵、建材、石化、有色、硅酸鹽、煤炭、高嶺土、耐火材料、科研、環保等行業,是一種中型、經濟、高性能的光譜儀。采用固定通道,減少測量時間;固定通道尤其適用于熒光產額較低的輕元素和微量元素的測定,以提高分析精度和靈敏度。X熒光光譜儀采用操作方便,用戶習慣的智能化軟件,提供全自動分析操作,實現快速定性、定量分析和半定量分析。
  X射線熒光光譜儀一般有三點分析模式:
  ·點分析
  將電子探針固定在試樣感興趣的點上,進行定性或定量分析。該方法用于顯微結構的成份分析,例如對材料晶界、夾雜、析出相、沉淀物、奇異相及非化學計量材料的組成等分析。
  ·線分析
  電子束沿一條分析線進行掃描(或試樣掃描)時,能獲得元素含量變化的線分布曲線。如果和試樣形貌像(二次電子像或背散射電子像)對照分析,能直觀地獲得元素在不同相或區域內的分布。沿感興趣的線逐點測量成分,也可以劃出該線的成分變化曲線。
  ·面分析
  將電子束在試樣表面掃描時,元素在試樣表面的分布能在CRT上以亮度分布顯示出來(定性分析),亮度越亮,說明元素含量越高。研究材料中雜質、相的分布和元素偏析常用此方法。面分布常常與形貌像對照分析。
  X射線熒光光譜儀的點、線、面分析方法用途不同,檢測靈敏度也不同,定點分析靈敏度zui高,面掃描分析靈敏度zui低。

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