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淺析在線粒度儀相比傳統離線粒度測試方法的優勢
發布時間:2023-07-27

在線粒度儀作為一種粒度分析工具,能夠實時監測和優化顆粒尺寸分布,廣泛應用于各個工業領域。它的高精度、高靈敏度和高穩定性使得粒度分析變得更準確和可靠。它通過光學或聲學原理,將物料中的顆粒進行非接觸式檢測,并根據檢測結果生成粒度分布曲線。通常具有高精度、高靈敏度和高穩定性的特點,可以...

  • 發布時間:2019-04-23

    X射線衍射儀的原理:x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近,晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,即一束X射線照射到物體上時,受到物體中原子的散射,每個原子都產生散射波,這些波互相干涉,結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強,在其他方向上減弱。分析衍射結果,便可獲得晶體結構。以上是1912年德國物理學家勞厄(M.vonLaue)提出的一個重要科學預見,隨即被實驗所證實。1913年,英國物理學家布拉格父子(W.H.Bragg,W.L.Bragg)在勞厄發現...

  • 發布時間:2019-04-16

    Zeta電位儀是由新型的光學系統、電泳池、數據采樣和數據處理等部分組成,實現了由PC個人微機對采樣模塊的控制及后期數據處理的一體化設計,與其它同類產品相比,它具有更多的優異性能。Zeta電位儀可用于測定分散體系顆粒物的固-液界面電性(ζ電位),也可用于測量乳狀液液滴的界面電性,也可用于測定等電點、研究界面反應過程的機理。通過測定粉體的Zeta電位,從pH-Zeta電位關系圖上求出等電點,是認識粉體表面電性的重要方法,在粉體表面處理中也是重要的手段。與國內外其它同類型儀器相比,...

  • 發布時間:2019-04-12

    Empyrean銳影X射線衍射系統是荷蘭帕納科公司繼X’Pert專家系統后,十年一劍,推出的全新X射線衍射儀,可滿足當前4大類X-射線分析要求的平臺,即衍射、散射、反射和CT影像X射線分析平臺,樣品可以是粉末,薄膜,納米材料,塊狀材料。它擁有新開發的X光管,的測角儀、*的新樣品臺和嚴格的輻射安全防護。衍射平臺上的三維探測系統,PIXcel3D探測器將使用于這一多功能的X-射線衍射系統上,將面探測技術與CT技術平民化。使用EmpyreanX射線衍射和混合像素探測器PIXcel3...

  • 發布時間:2019-04-08

    EmpyreanNano版多功能X射線散射平臺是一種混合實驗室X射線散射儀。這款*的設備支持多種技術,以多種長度比例進行(納米)材料的結構鑒定。與市場上的其它實驗室儀器不同,EmpyreanNano版涵蓋了從sub-?ngstr?ms到微米級的布拉格間距,以及跨越幾乎50年的散射矢量q范圍——沒有任何間隙。主要應用:1、SAXS(小角X射線散射)SAXS是分析各種樣品類型(液體、粉末、固體、凝膠...)的納米級結構和尺寸的通用工具之一。樣品可以是無定形、結晶或半結晶。通過SA...

  • 發布時間:2019-04-02

    X射線熒光(XRF)光譜測定是一種無損式分析技術,可用于獲取不同類型材料的元素信息。它已在許多行業和應用領域中得到廣泛運用,包括:水泥生產、玻璃生產、采礦、選礦、鋼鐵及有色金屬、石油和石化、聚合物及相關行業、制藥、保健產品和環保。光譜儀系統通常分為兩大類:波長色散式系統(WDXRF)和能量色散式系統(EDXRF)。兩者之間的區別在于檢測系統。在波長色散式光譜儀中,X射線光管用作直接照射樣品的光源,并且使用波長色散式檢測系統來測量樣品發出的熒光。分光晶體根據波長(而不是能量)來...

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