X射線衍射儀是對物質和材料的組成和原子級結構進行研究和鑒定的基本手段。X射線衍射儀對單晶、多晶和非晶樣品進行結構參數分析，如物相鑒定和定量分析、室溫至高溫段的物相分析、晶胞參數測定(晶體結構分析)、多晶X-射線衍射的指標化以及晶粒尺寸和結晶度的測定等。可地測定物質的晶體結構，如：物相定性與定量分析，衍射譜的指標化及點陣參數。

　　工業X射線衍射儀是帕納科公司(原飛利浦分析儀器)開發出的專門用于工業領域產品開發，質量控制的X射線衍射儀。廣泛應用于鋁行業，石油化工行業，鋼鐵行業等工業領域。采用了新型X光管――第二代陶瓷X光管；新型測角儀――采用DOPS直接光學定位傳感器精確定位的高精度測角儀，有優化的控制臺及簡單易操作、功能強大的窗口軟件INDUSTRY。
 

　　工業X射線衍射儀主要特點：

　　1.超高頻X射線發生器

　　2.采用第二代陶瓷X光管技術，通過精密機械加工使陽極靶材三維高精度定位，用戶在更換X光管后無需重新校準路

　　3. 立式測角儀，采用DOPS直接光學位置編碼技術

　　4. zui多可達60位自動進樣系統

　　5.功能強大的 X'Pert Industry 控制與操作軟件
 

　　技術參數：

　　1.功率：3kW

　　2.測角儀重現性：0.0001度

　　3.測角儀類型：T-T