X射線衍射儀是利用衍射原理,測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應(yīng)力,的進(jìn)行物相分析,定性分析,定量分析。廣泛應(yīng)用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教學(xué)、材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。
(一)材料科學(xué)
研究和發(fā)展材料,這項(xiàng)工作涉及研究各種物質(zhì)的特性和使用,如金屬,陶瓷和塑料,應(yīng)用范圍從空間科學(xué)和國(guó)防科技到消費(fèi)類產(chǎn)品。
X射線衍射儀(XRD)是研究材料的主要技術(shù),包括下列功能:相的識(shí)別和定量,相的結(jié)晶度判定,晶體結(jié)構(gòu),晶體取向和織構(gòu),極圖等。這些功能的非環(huán)境條件影響也同XRD技術(shù)一起經(jīng)常研究。搜索可針對(duì)各種樣品類型,從粉末到各種形狀和尺寸的固體材料,液體和半導(dǎo)體晶片。
(二)地質(zhì),礦產(chǎn)和采礦
在研究行星進(jìn)程和地球構(gòu)造過(guò)程中,地理學(xué)家們需要分析巖石和礦物樣品的組成。X射線衍射儀分析技術(shù)如:小點(diǎn)激發(fā),分布分析和無(wú)標(biāo)定量分析,日漸成為地質(zhì)研究及礦物學(xué)研究領(lǐng)域內(nèi)的主要儀器。
X射線衍射儀(XRD)可定量測(cè)量相組成。X射線衍射數(shù)據(jù)的Rietveld分析被認(rèn)為是晶體相定量分析適合的方法。
(三)金屬
鑄造廠,冶煉廠和鋼廠還有金屬行業(yè)的其他方面都是連續(xù)生產(chǎn)并要求日夜控制生產(chǎn)和進(jìn)料出料的質(zhì)量。合金的化學(xué)含量,殘余應(yīng)力是與結(jié)構(gòu)失效相關(guān)的重要特征。X射線衍射儀是韋一無(wú)損測(cè)量殘余應(yīng)力的方法。X射線衍射具有的空間分辨率和測(cè)量硬化材料的能力提供了非接觸式測(cè)量。
(四)涂層
現(xiàn)代生活的每個(gè)環(huán)節(jié)都得益于涂層或薄膜技術(shù)。無(wú)論是集成電路芯片上的阻擋層薄膜還是鋁制飲料罐上的涂層,X射線是研發(fā),產(chǎn)品過(guò)程控制和質(zhì)量保證的分析技術(shù),
X射線衍射儀(XRD)和附屬技術(shù)被用于確定薄膜分子結(jié)構(gòu)的性質(zhì)。