多晶X射線衍射分析法又被稱為粉末X射線衍射分析法，利用此法時要先把樣品制成很細的粉末，再對粉末進行壓片制樣.它有很多優(yōu)點，例如：粉末X射線衍射分析法是一種非破壞性的分析方法，特別適合做物相分析；可以測定一些晶態(tài)物質(zhì)的結(jié)構(gòu)參數(shù)和晶體結(jié)構(gòu)；同時也可以測定非晶態(tài)物質(zhì)，因此，它是物理學中一種非常重要的實驗方法。

 

X射線粉末衍射分析法是研究物質(zhì)材料結(jié)構(gòu)和成分分析的主要方法，具有無污染、不損壞樣品的特點，為近代科學技術的發(fā)展做出了巨大的貢獻，是重要的材料分析技術之一。作為便捷的分析測試儀器，X射線粉末衍射儀被廣泛應用于材料生產(chǎn)研究、礦物、藥物等各個領域。

 

X射線粉末衍射儀的注意點：

 

影響衍射環(huán)質(zhì)量的主要因素是樣品的取樣性偏差，即晶體的晶癖特征（如針狀或片狀）導致某些方向被過度衍射，而其他方向衍射不足；用通俗語言描述即，片狀晶體在測量盤中呈現(xiàn)“躺著/睡著的姿勢”，衍射角集中于水平角度，而在縱向上有所欠缺。此類晶體通常可體現(xiàn)出過篩前后或粉碎前后XRPD圖譜不同，而其實際晶型并未發(fā)生變化。

 

因此，針對不同合成工藝所得原料，應先通過顯微鏡觀察其晶癖，再測定粉碎或過篩前后XRPD，避免發(fā)生過篩導致晶型變化的錯誤判斷。此外，在晶型特征峰分析時，更關注低角度的峰，因其代表了間距較大的晶面，其衍射峰受干擾的概率較低。

 

總之，判斷不同多晶型的XRPD圖譜，其是否為同一晶型，XRPD中峰的θ角是主要依據(jù)，因其角度大小反應的是單元晶格大小；而峰相對強度取決于晶體中的原子種類及其分布位置。如所測圖譜質(zhì)量不高，則相對峰強度差異通常不應成為晶型不同的判斷依據(jù)。